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影像测量系统如何实现扫描式精密闪测

点击次数:更新时间:2020-05-27 16:24:15

CiC™测量技术在系统光学下平台连续移动时,对零件图像进行拍“快照”。QVI集团旗下的VIEW独有的CiC技术可以绘制大面积的图像,将单个图像拼接在一起,从而作为一个整体进行分析。根据被测零件的几何形状,在保证测量性能的前提下,测量周期大大减少。

AMF™是一种先进的视频分析技术,它使用从普通视频自动聚焦步骤收集的数据,并将其转换为所测量特征的3D图像。除了3D信息外,它还提供了单个图像的多个特征的高度或深度测量。这种技术可以用来测量平面度、粗糙度、高度和体积。

它比任何需要XY平台运动的扫描方法都要快。这是QVI集团旗下的VIEW致力于推进视频测量应用技术的又一个例子。