当前位置:网站首页 >> 产品展示 >> VIEW Mirco三维光学精微测量仪
VIEW Mirco三维光学精微测量仪

影像测量仪 VIEW Benchmark300

点击次数:更新时间:2020-10-15 13:21:24

高性能落地式光学测量系统VIEW Benchmark™300是具备高性能和高可靠性的落地式光学测量系统。先进的光学、照明、图像处理和可获得的连续图像捕捉等专利技术,使VIEW Benchmark成为一个世界级的测量系统。VIEW Benchmark300系统设计为用于生产车间,具有紧凑的,落地型平台,为过程控制提供精确测量,测量行程为300x300mm,适用于需要高效率、精度和期望的精度的应用需求。

XYZ测量行程:300x300x150 mm/ 300x300x200 mm

承载力:30 kg

光学镜头:单放大倍率,固定倍率固定镜头光学与工厂可配置的后适配管和现场可互换前置镜头;可选双放大率,具有现场可更换的前置透镜的固定透镜

光学测量的相机:200万像素(1628 x 1236)数码单色;彩色和其他相机配置可选

照明:可编程LED照明系统,共轴通过镜头的表面光,平台下的背光,和多色环形光与自动入射角控制网格自动对焦系统

传感器的选择:TTL激光彩虹探头,离轴白光传感器

测量模式:高速移动与测量(MAM)连续图像捕获(CIC)


产品特征:Benchmark 300标准配备影像测量仪 VIEW Benchmark300

:•高分辨率单放大率光学系统

•2.5倍显微镜物镜

•0.1um光栅尺

•可编程环形灯(PRL)

•多功能手动控制器

•基于pc的系统控制器。

•VIEW计量软件(VMS),它在一个系统中结合了高级功能和易用性。


Benchmark300特殊选项包括

:•精度升级为0.05um光栅尺分辨率

•脉冲背光用于连续图像捕捉(CiC)应用所有的标准VIEW硬件和软件选项也在Benchmark300上可用,包括:

•双放大光学系统

•网格自动对焦与Ronchi或点网格投影仪

•0.8 x、1X、5X、10X和25X的前置物镜通过镜头同轴(TTL)激光

•microtheta旋转工作台

•彩虹探针™

•工业数字I/O

•温度监控

•Element Cad测量软件

•连续图像捕捉(CiC)

•面域多焦点软件包

•高级图像处理包

推荐产品