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OGP在SEMICON China上展示超高精度影像测量仪

点击次数:更新时间:2013-08-22 16:14:38

OGP上海(奥智品光学仪器)于2013年3月19日至3月21日参加了中国半导体行业的顶级盛会Semicon China, 为展会观众现场演示了多元传感测量仪的强大功能及操作。
 
成立于1945年的OGP,作为非接触式光学测量仪及多元传感测量领域的领头羊,在本次展会上推出其最尖端的精密测量技术之一:OGP SmartScope Vantage 300影像测量系统。Vantage 300三次元测量系统在展会中完整地装配了运用干涉原理的TeleStar TTL激光、接触式探针、微型测头等传感器,与光学测头完美结合,在同一测量程序中自动转换传感器,并结合旋转台完成零件三维扫描,输出到CAD ,检测精度可达一微米,而该系统最大的特点是其呈现了完善的空间精度。

 

 

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