光学量测量仪器是一类利用光学原理和设备进行物体尺寸、形状、位移、形变等参数的测量和分析的仪器。它们可以通过不同的光学现象和原理来进行测量，下面列举了一些常见的光学量测量仪器及其测量方法：

　　1. 光学显微镜

　　光学显微镜利用光线的折射和反射原理，通过显微镜观察物体的形状、表面状况、颗粒分布、光学结构等细节信息。

　　2. 干涉测量法

　　干涉测量法利用光波的干涉现象进行测量，包括菲涅尔衍射、弗洛涅尔衍射、迈克耳逊干涉等方法，可以精确测量物体的表面形貌、薄膜厚度等。

　　3. 拉曼光谱

　　拉曼光谱通过激发物质分子的振动、转动等产生的光子能级变化，分析物质的组成和结构。

　　4. 光学屈光度测量

　　光学屈光度测量用于测量透明介质的折射率、光的传播速度等光学参数，包括测量透镜、眼镜、晶体等的折射率和光学效应。

　　5. 光散射和荧光

　　光散射和荧光通过测量光的散射、吸收和发射特性，分析物体的粒径分布、浓度、化学成分等信息，常见方法有动态光散射、静态光散射、拉曼散射等。

　　6. 光学干涉测量

　　光学干涉测量通过利用光波的干涉现象，测量物体的位移、形变等信息，包括Michelson干涉仪、白光干涉仪、激光干涉仪等方法。

　　7. 接触式干涉仪(乌威尔斯基干涉仪)

　　接触式干涉仪基于迈克耳逊干涉原理，利用测量光路与参考光路光程差的变化，以接触方式对精密零件长度尺寸进行比较测量的光学仪器。

　　8. 测长仪、测长机

　　测长仪、测长机带有长度基准，采用接触方式，测量精密零件长度尺寸的光学仪器。

　　9. 工具显微镜

　　工具显微镜用显微镜瞄准被测件，按平面直角坐标和极坐标进行测量的光学仪器，配有顶针架等多种测量附件，瞄准显微镜立柱可作偏摆调节。

　　10. 测量显微镜

　　测量显微镜具有瞄准显微镜和平面直角坐标测量系统，用于对标尺的刻度进行细分并读取示值。

　　以上就是一些常见的光学量测量仪器及其测量方法。需要注意的是，这只是一个大致的分类，并不代表所有的光学量测量仪器都采用了这些方法。实际上，不同的仪器可能采用了更加专业或者特定的测量技术。