三次元测量仪和二次元测量仪是两种常用的测量工具，它们在测量原理、适用范围和测量精度等方面存在一些差异。以下是它们的主要区别：
1. 测量原理
二次元测量仪：通常用于平面测量，通过将本身的硬件CCD以及光栅尺，通过USB及RS232数据线传输到电脑的数据采集卡中，将光信号转化为电信号，之后由影像测量仪软件在电脑显示器上成像，由操作员用鼠标在电脑上进行快速的测量。
三次元测量仪：可以进行三维测量，包括深度、宽度、高度和角度等多个方向。它依靠三维取点来进行测量，将被测物体置于三次元测量空间，可获得被测物体上各测点的坐标位置，根据这些点的空间坐标值，经计算求出被测物体的几何尺寸，形状和位置。
2. 适用范围
二次元测量仪：主要应用在二维测量领域，如一些薄壁件，液晶板，塑胶件的测量。有测头的可以测量一些简单形位公差，如平面度，垂直度等。
三次元测量仪：适用于需要全方位、高精度的三维测量任务，可以测量形状复杂的机械零件的尺寸，形位公差和自由曲面等。
3. 测量精度和速度
二次元测量仪：在垂直方向的测量精度可能会受到限制，但它具有较快的测量速度和操作简便性。
三次元测量仪：可以直接获取物体的三维数据，因此在精度和测量速度方面通常更高，可以实现高精度和高效率的测量任务。
根据具体的测量需求和对象特征，选择适合的测量设备能够提高测量效果和准确性。
