1.结构光投影法原理

　　结构光投影法是一种常见的三维光学测量技术，其基本原理是利用投影仪将编码的光线投射到目标物体上，形成光栅或条纹图案。通过相机记录目标物体上的光栅或条纹图案，并通过图像处理算法提取出图案的形状信息，从而得到目标物体的三维形状。

　　技术细节

　　光源选择：通常使用蓝光或白光投影仪作为光源。

　　图案编码：使用光栅或二维条纹编码图案。

　　形变捕捉：目标物体的表面形状会导致图案产生形变。

　　图像处理：通过相机拍摄图案形变后的图像，并与原始编码图案进行比较和分析，计算出目标物体的三维形状信息。

　　2.激光投影法原理

　　激光投影法利用激光束作为光源，通过将激光束聚焦到目标物体表面上，形成点、线或面等形状的光斑。再通过相机记录光斑的位置或形状信息，并利用三角测量原理计算目标物体的三维坐标。

　　技术细节

　　光源类型：通常使用激光器产生激光束。

　　光学系统：通过透镜或光学系统将激光束聚焦到目标物体上。

　　光斑形成：激光束与目标物体表面相交，产生明亮的光斑。

　　坐标计算：相机记录光斑的位置或形状信息，并通过标定和三角测量原理计算出目标物体的三维坐标。

　　3.白光干涉法原理

　　白光干涉法利用分束器将一束白光分成两束，分别照射到目标物体和参考面上。经过反射后的光束再次汇聚，形成干涉图案。通过分析干涉图案中的亮暗条纹，可以计算出目标物体的表面高度信息。

　　技术细节

　　光学组件：通常使用分束器、反射镜和相机构成干涉测量系统。

　　光源分配：一束白光被分束器分成参考光和测量光两束，分别照射到目标物体和参考面上。

　　干涉图案分析：相位测量法通过分析干涉图案中的亮暗条纹，推导出目标物体的高度或形状信息。

　　4.相位测量法原理

　　相位测量法利用相机记录目标物体上的干涉条纹图案，并通过分析图案的相位差来推导出目标物体的高度或形状信息。这种方法包括多种具体的技术，如二次频率法、载波相移法和全息干涉法等。

　　技术细节

　　干涉图案记录：相机记录干涉图案。

　　相位解析：通过相位解析算法提取出干涉图案中的相位信息。

　　高度或形状计算：利用相位信息的变化，计算出目标物体的高度或形状。

　　5.三维影像测量仪原理

　　三维影像测量仪是一种集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。它克服了传统投影仪和二维影像测量的不足，适用于测量三维几何尺寸和形位公差。

　　技术细节

　　光源系统：装配四种可调的光源系统，观测工件轮廓及表面形状。

　　冷光源系统：避免热变形和碰触引起的变形。

　　高度方向精密测量：不受零件表面纹理和材质影响，实现非接触式3D测量。

　　自动化测量：系统全自动测量过程中优异的影像识别能力，实现批量自动测量。

　　6.NPFLEX三维表面测量系统原理

　　NPFLEX三维表面测量系统针对大样品设计的非接触测试分析系统，灵活测量大尺寸、特殊角度的样品，提供高效的三维表面信息测量，具有垂直方向亚纳米分辨率。

　　技术细节

　　宽带光干涉显微镜：用于捕捉高精度的表面形貌信息。

　　垂直位移扫描工作台：支持样品的精确移动和定位。

　　摄像及图像处理系统：记录和分析测量过程中的图像数据。

　　工控机：控制整个测量系统的运作和数据处理。

　　以上是对三维光学测量仪几种常用原理的详细解释，每种方法都有其独特的应用场景和技术细节，选择合适的方法可以显著提高测量的精度和效率。