最新一代光学投影测量系统通过亚像素边缘提取与多频相位扫描技术，将航天器舱段对接面轮廓检测精度从3μm 提升至0.7μm，单站测量时间缩短58%，为后续深空探测器轻量化结构装配奠定数据基础。
系统采用420 mm大靶面平行光路，配合0.1″角度编码器，可在5 s内完成360°全景轮廓采样；内置热漂移实时补偿模块，在20 ℃±5 ℃环控区间内将材料热膨胀误差压制到±0.2 μm，确保碳纤维桁架长期形变监测的可靠性。
针对航天器多层薄膜天线，设备新增50 nm垂直分辨率共焦通道，可一次性获取厚度、粗糙度与表面缺陷三类数据，把传统三步工序合并为单站检测，减少30%工装占用面积，并使工艺线节拍从每片4.5 min降至1.8 min。
项目团队透露，该测量方案已用于新一代货运飞船舱门密封槽试制，首批30 件样件合格率由92% 提升至99.3%，预计每年可节省返工成本逾千万元；后续技术将拓展至卫星太阳翼铰链及火箭贮箱网格壁板生产线。
