光学轴类测量仪是一种用于测量机械零件的直线、角度等几何参数的测量设备。其工作原理主要利用了光学干涉的原理，它的主要部件包括光源、参照平面、待测物体和干涉仪等。
具体工作原理如下：
1. 光源：垂直于参照平面的光源照射在待测零件的表面上，形成一束平行光。
2. 参照平面：参照平面是一个光学平面，通常是平行于待测零件的一个标准平面，用于确定测量坐标系。
3. 待测物体：待测零件放置在参照平面上，光线穿过待测零件并射出。
4. 干涉仪：干涉仪分为两种，分别是型式干涉仪和分光干涉仪。通过给出的光程差和知道了光的波长，就可以知道当前测量的长度。
型式干涉仪，则是通过不同物距产生不同像距，得到干涉图模式，然后，通过比较模式的不同来确定位移距离。
分光干涉仪，则是将干涉模式通过分光装置分出不同波长。通过识别干涉图像中的条纹数量和暗纹跳变，计算出待测物体表面的高度、角度和位置等几何参数。
总之，光学轴类测量仪主要利用了光学干涉的原理进行测量，精度高、稳定性好，被广泛应用在精密加工和质量控制领域。
