三维测量仪探头是用于获取物体表面三维信息的关键部件。三维测量仪探头的工作原理可以分为接触式和非接触式两大类。
接触式三维测量仪探头的工作原理
接触式三维测量仪探头采用探测头直接接触物体表面，通过探测头反馈回来的光电信号转换为数字面形信息，从而实现对物体面形的扫描和测量。这类探头主要以三坐标测量机为代表。接触式测量具有较高的准确性和可靠性，能够快速准确地测量出物体的基本几何形状，如面、圆、圆柱、圆锥、圆球等。然而，它的缺点也很明显，包括测量费用较高、探头易磨损、测量速度慢、检测一些内部元件有先天的限制等。
非接触式三维测量仪探头的工作原理
非接触式三维测量仪探头采用非接触的方式测量物体表面，避免了对物体表面的物理接触，可以测量各种材料的模型。这类探头主要采用结构光技术、相位测量技术、计算机视觉技术的复合三维非接触式测量技术。它们采用的是白光光栅扫描，以非接触三维扫描方式工作，具有高效率、高精度、高寿命、高解析度等优点，特别适用于复杂自由曲面逆向建模。非接触式三维测量仪探头能够在获取表面三维数据的同时，迅速的获取纹理信息，得到逼真的物体外形，能快速的应用于制造行业的扫描。
综上所述，无论是接触式还是非接触式三维测量仪探头，它们都是通过不同的技术手段获取物体表面的三维信息。选择哪种类型的探头取决于被测物体的特性以及所需的测量精度和速度等因素。在实际应用中，应根据具体需求合理选择适合的三维测量仪探头。
