光学影像测试仪实现航天叶片微米级全检提速

2026.04.07

  最新一代光学影像测试仪在航天叶片制造环节完成验证,将原本需要45分钟的单件全尺寸检测压缩至7分钟,尺寸重复精度稳定在0.8μm,一次性通过率由92%提升至99.3%,为批产提速奠定数据基础。

  设备采用4200万像素全局快门CMOS与低相干干涉双光路融合技术,可在同一坐标系下同步获取2D边缘与3D曲面点云;AI边缘计算模块对前缘R角、尾缘厚度等12处关键特征实时拟合,公差带自动映射至数字孪生模型,实现加工—测量—补偿闭环。

  针对镍基单晶薄壁易变形难题,系统内置0.1N级气动隔振与蓝光面结构光,将热漂移控制在±0.5μm以内;自适应环形光源根据表面粗糙度动态调整角度与亮度,消除反光造成的“虚边缘”,使涂层厚度测量不确定度降至0.2μm。

  产线集成后,叶片抽检比例从10%提升至100%,单台设备年均可释放产能1200小时;质量数据通过加密链路上传至MES,不合格品定位时间由3小时缩短至5分钟,返修率下降38%,为下一代可重复使用火箭涡轮泵减重方案提供高可靠数据支撑。

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