简单的用户界面，强大的测量功能

SNAP-X测量软件为用户提供了一个简单、强大的界面，可以在有或没有零件程序的情况下进行全方位的特征测量。SNAP-X软件具有三种功能，可用于多种不同用途。

  • 测量

    只需将零件放在测量工作台上，然后一键即可开始测量。SNAP-X软件扫描图像并提取所有可辨别的特征。无需进一步操作即可查看结果，也可以将特征转化为程序的可测量步骤。


  • 分析

    使用户能够满足更复杂的GD&T要求，例如轮廓度或位置度。显示和报告功能在零件CAD上提供图形、颜色编码的偏差须线和GD&T标注。


  • 比较

    将实时图像与CAD叠加层进行比较，就像使用光学投影仪一样，但分辨率要高得多。颜色编码的公差带有助于识别零件是否在公差范围内。


SNAP-X测量软件与SNAP大视场测量系统、C-Vision系统和带有VidiProbe的轮廓投影仪兼容。

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