航天影像测量系统突破微米级精度

2025.11.19

  最新发布的航天级影像测量系统通过多频激光干涉、纳米级光栅尺与AI误差补偿算法,将空间三维坐标测量精度稳定提升至0.8 μm,较上一代产品提高40%,已满足卫星姿控组件、深空探测器光学载荷等关键部件的亚微米级检测需求。

  系统采用五轴联动龙门结构,配合低热膨胀系数陶瓷基座,可在-20 ℃至60 ℃环境下保持热漂移<0.3 μm/℃;内置的多元传感融合模块同时采集可见光、红外与激光共焦信号,实现复杂曲面全尺寸一次成像,单点扫描速度达15 kHz,大幅缩短航天器太阳翼铰链、燃料阀体等高价值零件的检测节拍。

  软件层面,自研的亚像素边缘提取算法将传统灰度矩法精度从1/3像素提升至1/10像素,结合航天材料数据库,可自动识别钛合金、碳化硅等20余种航天材料的表面反射特性并实时校正光路,确保在强反射或低对比度场景下依旧获得可靠数据。

  目前,该系统已在某型号遥感卫星相机支架的批产线上完成验证:对1200 mm×400 mm的碳纤维复合支架实施全尺寸扫描,整体测量不确定度U=0.9 μm(k=2),重复性误差≤0.4 μm,单件检测时间由45分钟压缩至11分钟,良品率提升3.2%,为后续深空探测任务提供了高可靠的质量数据支撑。

请填写个人信息
提 交

已收到您的个人信息,
我们的工作人员将尽快与您联系。

返 回