新一代高精度影像测量仪近日在某航天器承力支架批量检测中实现±0.8 μm重复精度，将传统三坐标检测效率提升3.2倍，单件测量时间由45分钟缩短至12分钟，为高密度发射任务提供零缺陷数据支撑。
设备采用0.01 μm光栅尺闭环反馈与低热变形花岗岩平台，配合六环八区LED冷光源，可在20℃±0.1℃恒温环境下连续工作24小时，膨胀系数≤1.2×10⁻⁶/℃，确保航天级碳纤维复材与钛合金薄壁件在热变形临界区间内获得真实几何数据。
针对航天支架自由曲面与深腔特征，系统集成激光共焦与光谱共焦双传感器，实现0.05 mm微孔深度、30°斜面轮廓一次测量，自动补偿反光及阴影误差；AI边缘算法将边缘提取误差控制在0.2 pixel以内，使R0.1 mm倒角及0.3 mm加强筋尺寸100%可追溯。
测量数据通过MES接口实时上传至航天质量云平台，关键尺寸超差0.5 μm即触发声光报警并停机锁料，实现加工—测量—补偿闭环；自研SPC模块可在15秒内生成CPK≥1.67的批次报告，为火箭减重3.7 kg的同时节省92%人工复检成本。
随着商业航天进入“周发射”节奏，微米级影像测量技术正从实验室走向脉动生产线，成为保障卫星、火箭及可重复使用飞行器高可靠、低成本批量制造的核心质量基础设施。
